Измерение профиля поверхности

Прецизионный бесконтактный контроль микротопографии поверхности с нанометровым разрешением. Метод обеспечивает получение трехмерных данных о рельефе для количественной оценки шероховатости, дефектов и геометрических параметров микроструктур.

Оставить заявку

Оборудование

Оптический профилометр Nikon BW-S505

Поле зрения (однокадровое)

до 500×500 мкм

Разрешение по высоте

до 1 нм

FVWLI (белый свет)

Принцип измерения

Результаты измерения

3D-изображение + числовой анализ

Метод интерферометрии белого света в полном поле позволяет проводить неразрушающий контроль поверхностей с субнанометровой точностью. Технология основана на анализе интерференционной картины, возникающей при сканировании поверхности когерентным излучением.

Оборудование обеспечивает автоматизированное получение топографических карт с последующей количественной обработкой данных. Возможно проведение статических и динамических измерений, включая контроль шероховатости, волнистости и параметров микрорельефа.

Инжиниринговый центр в области радиоэлектронного приборостроения «Технопарка Санкт-Петербурга» оказывает услугу измерения профиля поверхности с применением оптического профилометра Nikon BW-S505, работающего по технологии FVWLI — интерференции белого света в полном поле. Метод обеспечивает получение точных 3D-данных о микрорельефе без контакта с образцом и с нанометровым разрешением по высоте.

Услуга используется для анализа шероховатости, выявления микродефектов, измерения глубины микрообъёмов и контроля качества финишной обработки. Подходит как для технологического контроля, так и для научных исследований в микроэлектронике, материаловедении, механике точных изделий и других смежных направлениях.

Измерения выполняются квалифицированными специалистами с интерпретацией результатов по запросу заказчика и возможной выдачей отчёта.

Области применения

Микроэлектроника и СВЧ-устройства

Прецизионная механика и машиностроение

Материаловедение и нанотехнологии

Научно-исследовательские разработки

Этапы работы

Оценка размеров, отражающей способности и требований к точности. Подготовка поверхности к сканированию (по необходимости).

Преимущества

Нанометровая точность измерения

Полное 3D-изображение без контакта

Оперативная обработка и визуализация

Примеры работ

Стоимость

Наименование услуги

Стоимость

Для МСП СПб (-20%)

Для резидентов НПЦ БАС из СПб (-30%)

Измерение профиля поверхности с использованием оптического профилометра BW-S505

Измерение профиля поверхности с использованием оптического профилометра BW-S505, с построением 3D-модели

1 150 ₽

1 680 ₽

920 ₽

1 344 ₽

805 ₽

1 176 ₽

Заказать услугу

Контакты

Яна Ибрагимова

Директор Регионального инжинирингового центра радиоэлектронного приборостроения «Технопарка Санкт-Петербурга»

y.ibragimova@spbtech.ru

+7 (812) 670-10-85 (доб. 306)

Адрес

наб. реки Карповки, 5К, этаж 3

Карта

Похожие услуги