一种旨在识别物体内部结构隐藏缺陷的无损检测方法。适用于印刷电路板的二维检查、焊接接头质量控制以及印刷电路板内部结构研究。广泛应用于科研工作、缺陷分析、入库及验收控制。

设备

YXLON Cheetah EVO 工业计算机断层扫描仪

X射线穿透深度

高达 10 mm

扫描分辨率

0.5 μm

高达 300×300 mm

物体最大尺寸

检测器类型

平板探测器

X射线检测是一种对产品内部结构进行无损研究的方法。该技术可以在不对物体产生机械影响的情况下，识别出诸如气孔、裂纹、虚焊、连接完整性受损等缺陷。

设备可提供高分辨率图像，从而能够对微电子元件、多层印刷电路板和复杂组件进行检查。该方法应用于生产周期的各个阶段：从科学研究工作到批量产品的质量控制。

航空航天工业

无线电电子和微电子工业

能源机械制造

仪器制造

应用领域

工作阶段

优势

无损检测特性

能够研究复杂轮廓对象

高分辨率

快速诊断，样品准备工作量极少

案例展示

费用

服务名称

费用

针对圣彼得堡中小企业（-20%）

针对圣彼得堡无人机系统科研中心入驻企业（-30%）

在 YXLON Cheetah EVO 上进行 X 射线检测（不含连接质量分析，1 件产品 / 1 个检测点）

在 YXLON Cheetah EVO 上进行 X 射线检测（含连接质量分析，1 件产品 / 1 个检测点）

在 YXLON Cheetah EVO 上进行 X 射线检测（产品层析成像 / 初始，1 小时）

在 YXLON Cheetah EVO 上进行 X 射线检测（产品层析成像，附加循环，1 小时）

600 ₽

1 200 ₽

4 300 ₽

3 100 ₽

480 ₽

960 ₽

3 400 ₽

2 480 ₽

420 ₽

840 ₽

3 010 ₽

2 170 ₽

Irina Kostenko

圣彼得堡技术园无线电电子仪器制造区域工程中心主任

i.kostenko@spbtech.ru

+7 (812) 670-10-85 (分机 309)

地址

扎涅夫斯基大街 30 号 2 号楼

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